Microscopio Elettronico a Scansione Ambientale

Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) in grado di operare in condizioni di basso vuoto, vicino alla pressione atmosferica e/o con presenza di umidità (condizioni ambientali) in camera. Per questo motivo permette di osservare materiali non conduttivi e/o umidi nel loro stato naturale, senza la necessità, tipica dei SEM convenzionali e ad alta risoluzione, di disidratare i campioni o di ricoprirli con materiali conduttivi (tipicamente carbonio o oro) che ne possono alterare composizione e morfologia.

Permette analisi strutturali e morfologiche ad alta e altissima risoluzione (sino a pochi nm). La contemporanea presenza di un sistema di Microanalisi a Raggi X permette di combinare alle potenzialità di osservazione la possibilità di analizzare la composizione dei materiali osservati.

La dotazione software permette inoltre di combinare le osservazioni SEM con le più diffuse tecniche di microscopia ottica, offrendo la possibilità di osservare gli stessi dettagli con tecniche diverse e complementari (microscopia correlativa)

Grazie alla possibilità di operare in condizioni di basso e bassissimo vuoto, e alla dotazione di opportuni portacampioni, all'interno della camera portacampioni è possibile eseguire veri e propri esperimenti in-situ (reazioni chimiche, sensing di gas, crescita di cristalli, processi di corrosione, processi in temperatura, ...)

Dati Tecnici

  • Modello: Zeiss EVO LS10
  • Vuoto: sino a 3000 Pa
  • Sorgente elettronica: LaB6 e W intercambiabili
  • Risoluzione: 2 nm @ 30 keV in alto vuoto; 3.5 nm @ 30 keV in
  • pressione variabile
  • Tensione di accelerazione: da 200 V a 30 keV
  • Corrente di fascio: da 0.5 pA a 5 uA
  • Range di ingrandimento: da 7X a 1000000X
  • Microanalisi a Raggi X: Bruker QUANTAX 200 con rivelatore SDD
  • XFLASH serie 6, area attiva 30 mm2